2006 - Proceedings of 12th International Workshop on Thermal investigations of ICs

 

Invited talk1 : Enabling electronic prognostics using thermal data

Session 1 : Temperature measurements

Poster introduction session

Session 2 : Thermal simulation

Session 3 : Measurement of thermal properties

Session 4 : Reliability

Session 5 : Thermal modeling and investigation of packages

Special session

Session 6 : Electrothermal simulation and modeling

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