Détermination expérimentale par l'interférométrie de speckles des champs  des contraintes liées aux sollicitations thermiques dans les cartes électroniques embarquées

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Pour citer ce document :
URI: http://hdl.handle.net/2042/37284
Title: Détermination expérimentale par l'interférométrie de speckles des champs  des contraintes liées aux sollicitations thermiques dans les cartes électroniques embarquées
Author: NISTEA, Ioana; BENMEZIANE, Nadir; BORZA, Dan
Description: Les équipements électroniques sont caractérisés par des grandes différences entre les propriétés des matériaux utilisés - qui peuvent générer des défaillances à caractère destructif. Le papier présente une analyse basée sur des mesures expérimentales des champs de déformations et des concentrations des contraintes induites dans une carte électronique soumise aux chargements thermiques.
Publisher: AFM, Maison de la Mécanique, 39/41 rue Louis Blanc - 92400 Courbevoie
Date: 2009

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