| Pour citer ce document : |
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URI:
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http://hdl.handle.net/2042/1589
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Title:
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08 - Test exhaustif de circuits combinatoires |
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Author:
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COHEN, Gérard; GODLEWSKI, Philippe; KARPOVSKY, M.
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Abstract:
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Nous présentons une méthode de construction de tableaux dits s-surjectifs qui permettent de tester exhaustivement
tout ensemble de s entrées d'un circuit combinatoire . La méthode est basée sur l'emploi de codes linéaires, c e
qui assure la simplicité de sa mise en œuvre. La taille (nombre de tests) des tableaux obtenus se rapproche d u
minimum f(n, s) pour certaines valeurs des paramètres n (nombre total d'entrées du circuit) et s utiles en
pratique. |
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Description:
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We present a method for the construction of s-surjective arrays, which allows exhaustive testing of any set of s
inputs in a combinatorial device . The method is based upon the use of linear codes, which implies simplicity of
implementation. The size (number of tests) of the obtained arrays is close to the minimum f (n, s) for values of th e
parameters n (total number of inputs) and s useful in practice . |
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Subject:
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Test de VLSI; codes correcteurs d'erreurs; VLSI testing; error-correcting codes |
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Publisher:
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GRETSI, Saint Martin d'Hères, France |
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Date:
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1984 |
I-Revues
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