08 - Test exhaustif de circuits combinatoires

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Pour citer ce document :
URI: http://hdl.handle.net/2042/1589
Title: 08 - Test exhaustif de circuits combinatoires
Author: COHEN, Gérard; GODLEWSKI, Philippe; KARPOVSKY, M.
Abstract: Nous présentons une méthode de construction de tableaux dits s-surjectifs qui permettent de tester exhaustivement tout ensemble de s entrées d'un circuit combinatoire . La méthode est basée sur l'emploi de codes linéaires, c e qui assure la simplicité de sa mise en œuvre. La taille (nombre de tests) des tableaux obtenus se rapproche d u minimum f(n, s) pour certaines valeurs des paramètres n (nombre total d'entrées du circuit) et s utiles en pratique.
Description: We present a method for the construction of s-surjective arrays, which allows exhaustive testing of any set of s inputs in a combinatorial device . The method is based upon the use of linear codes, which implies simplicity of implementation. The size (number of tests) of the obtained arrays is close to the minimum f (n, s) for values of th e parameters n (total number of inputs) and s useful in practice .
Subject: Test de VLSI; codes correcteurs d'erreurs; VLSI testing; error-correcting codes
Publisher: GRETSI, Saint Martin d'Hères, France
Date: 1984

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